芯片失效分析
芯片分析,找專用芯片分析顯微鏡哦。今天小編簡單和大家說說芯片失效分析。
芯片失效分析主要是為了將失效原因找出,并及時采取有效措施,以避免造成更大的損失。芯片失效分析過程中,需要用到許多儀器,金相顯微鏡就是其中一款,它主要檢查內容如下:
1、制備樣片的金相顯微鏡分析。
2、各種缺陷的查找。
3、樣品外觀、形貌檢測。
好的芯片失效分析顯微鏡不僅能快速檢測芯片失效原因,還有利于用戶產品質量及可靠性提高,提高用戶經濟效益,同時失效分析也是仲裁失效事故,開展技術保險業(yè)務及對外貿易索賠的重要儀器等等??傊酒Х治鲲@微鏡應用尤為廣泛,小編就不在此一一列舉了,詳情大家可直接電話咨詢我們。
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